導通孔在墊怎麼處理:BGA、QFN 焊墊上的孔要不要塞、怎麼塞,從認識孔、看風險、選處理方式到驗證的 5 個階段
焊墊上直接打導通孔(Via-in-Pad),是為了讓腳距很密的 BGA 有地方走線,或讓 QFN 散熱墊把熱帶到內層;代價是孔沒處理好時,錫會被吸進孔裡、焊點缺錫,孔裡的空氣也會在回焊時跑進焊點、變成空洞。一份公開的試驗,在容易產生空洞的回焊曲線下寫:沒填的孔,空洞比填好的孔多、也比較大,有時到 5 倍;填好的孔,空洞率和焊墊上沒有孔沒有找到顯著差異。IPC-4761 把導通孔的處理分成七型,焊墊上的孔常用的是填孔再鍍銅蓋平;QFN 散熱孔可以塞孔,或從正面用防焊蓋孔。選哪一種,要和板廠一起談,之後用 X 光或切片看空洞。 本文談的是 BGA、QFN 焊墊上的導通孔要不要塞、怎麼塞,以及對組裝的影響;高頻訊號、阻抗設計、板廠填孔的製程細節,不在範圍內。分成 5 個階段:
- 階段①|先認識電路板上的孔: 插件孔、非鍍銅孔、導通孔,以及為什麼要把孔打在焊墊上。
- 階段②|導通孔在墊的風險: 錫被吸走、空洞、藥水殘留,空洞對可靠度的影響看零件。
- 階段③|IPC-4761 的七種處理方式: 蓋孔、塞孔、填孔、填孔後蓋平,各有什麼問題。
- 階段④|BGA 與 QFN 怎麼選: BGA 焊墊上的孔、QFN 散熱孔,各自的做法。
- 階段⑤|和板廠談、驗證空洞: 先講清楚為什麼要處理,再用 X 光或切片看結果。
下面每個階段寫:怎麼做、公開資料怎麼說,有對應時再寫嘉鴻能幫的;來源、例外與整理放在文末的「備註」。此為一般情況,仍需視個案而定。
階段①:先認識電路板上的孔
怎麼做:
- 三種孔:插件零件用的鍍銅通孔(PTH)、不鍍銅的孔(NPTH,例如定位孔與鎖螺絲的孔)、只負責連接層與層的導通孔(via)(本文的整理)。
- 為什麼打在焊墊上:腳距很密的 BGA,用「狗骨頭」的方式從焊墊拉線出去再打孔,空間不夠;把盲孔式的微導通孔直接打在焊墊上,從內層走線,就能放下更密的零件(來源 3)。
- 散熱用的孔:QFN 底下的散熱墊,要靠導通孔把熱傳到內層;要不要打孔、打幾個,看零件發多少熱(來源 5)。
- 好設計、難製造:導通孔在墊幫了設計,但同時給板子製作與組裝都帶來問題(來源 3)。
公開資料怎麼說: 一家電子材料公司在一篇放在 IPC 網站的技術論文(沒標年份,參考文獻到 2001 年)寫:要維持高腳數又縮小陣列封裝,限制之一是用導通孔加狗骨頭走線連到板面;替代的做法是把盲微導通孔放在 SMT 焊墊上,再經由內層連接,讓腳距更密的晶片尺寸封裝有空間;導通孔在墊幫了設計工程師,但給板子的製作與組裝都帶來問題。一家半導體公司的 QFN 與 SON 焊接應用筆記(2002 年 6 月發行,2023 年 12 月修訂)寫:不是每個應用都需要散熱孔,要看零件消耗的功率;但中央的散熱墊一定要焊在板子上,才有機械強度與可靠度(備註表 1)。
階段②:導通孔在墊的風險
怎麼做:
- 錫被吸走:孔沒有塞、沒有蓋,錫會流進孔裡,原本要接的焊點就缺錫(來源 5、來源 6)。
- 空氣變空洞:印刷錫膏時,除非特意偏移印刷,錫膏會把焊墊上的孔蓋住,孔裡的氣體在回焊時膨脹、跑進焊點(來源 3);另一篇認為,孔造成的凹陷在印刷時困住空氣,回焊時出不去(來源 2)。
- 沒填的孔空洞多:一份試驗在容易產生空洞的回焊曲線下,沒填的孔空洞比填好的孔多、也比較大,有時到 5 倍;在 0.5 mm 腳距、4 mil 孔的 BGA 上,沒填的孔空洞最大到焊點面積的 26%;填好的孔,空洞率和沒有孔的焊墊沒有找到統計上的顯著差異(來源 2)。
- 藥水殘留:孔很小時不容易潤濕與清洗,會留下有腐蝕性的製程藥水、表面處理蓋不完整(來源 3);塞孔可以避免殘留與腐蝕、ICT 時漏氣、錫珠、錫膏流失(來源 1)。
- 影響看零件:一個業界聯盟的試驗,用無鉛錫膏焊、做溫度循環:沒填的微導通孔在墊,對焊球 0.89 mm 的大型陶瓷 BGA 影響可以忽略,對焊球 0.46 mm 的 BGA 與一顆 72 個接點的 QFN,壽命明顯下降(來源 4)。
公開資料怎麼說: 前面那篇電子材料公司的論文寫:雷射打出 100 µm 的微導通孔,一般的順形電鍍至少會讓開口縮小一半,成品開口不到 50 µm,容易潤濕不良,造成腐蝕性藥水殘留、表面處理覆蓋不完整;組裝時,除非特意偏移印刷,錫膏會把導通孔蓋住,困住氣體,回焊時膨脹進焊點。同一集團旗下另一家公司為首的合作論文(放在 IPC 網站,沒標年份,引用到 2006 年的報告)寫:該文認為,焊墊上的微導通孔造成的凹陷,在鋼板印刷時困住空氣,回焊時無法完全排出;在容易產生空洞的回焊曲線下,沒填的孔一直產生比較多、比較大的空洞,有時達 5 倍;孔填好時,空洞率與沒有孔的焊墊沒有找到統計上的顯著差異。一個高密度封裝使用者聯盟的論文(2011 年)寫:沒填的微導通孔在墊,對無鉛焊點溫度循環壽命的影響依零件而定,大型陶瓷 BGA 可以忽略,小焊球的 BGA 與 QFN 明顯變差;作者推測空洞的位置可能比大小更重要(例如落在疲勞裂縫的路徑上),但沒有證實,論文也寫空洞的百分比和失效前的循環次數沒有相關(備註表 2)。
階段③:IPC-4761 的七種處理方式
怎麼做:
- 一型,蓋孔:孔上不開防焊,用防焊蓋住;蓋的膜可能從一面或兩面破掉,把藥水甚至錫困在裡面(來源 1)。
- 二型,蓋孔再覆蓋:和一型類似,再多一層防焊;作者擔心孔上會比較高、影響鋼板印刷,不建議放在 BGA 底下(來源 1)。
- 三型,塞孔:材料只部分塞進孔裡,不保證孔被封住;困住的空氣可能把塞孔材料推出來(來源 1)。
- 四型,塞孔再覆蓋:三型再多一層防焊,問題和前面幾型類似(來源 1)。
- 五型,填孔:材料把整個孔填滿,裡面不會留下污染物(來源 1)。
- 六型,填孔再覆蓋:五型再蓋防焊;那家供應商的目標是填滿,自己的標準是至少填到 70%(來源 1)。
- 七型,填孔後鍍銅蓋平:五型(填孔)再在孔的兩面鍍一層銅蓋住(來源 7),通常用在導通孔在墊或高密度的 BGA;需要特殊的樹脂與設備(來源 1)。
- 單面版多不建議:一型到四型都分單面與雙面,IPC 不建議單面(來源 1)。
公開資料怎麼說: 一家電路板供應商的現場應用工程師,在電子製造業雜誌的專欄(2020 年 6 月)寫:IPC-4761(電路板導通孔結構保護的設計指南)把導通孔的保護分成一型到七型;一型到四型分單面與雙面,單面版 IPC 不建議;一型蓋孔的膜可能破掉,困住藥水甚至錫;二型孔上的高度可能影響鋼板印刷,作者不建議放在 BGA 的範圍內;三型只部分塞入,不保證封住,困住的空氣可能把塞孔推出;五型填滿孔,消除裡面的污染物;六型在填孔上再蓋防焊,作者的公司接受至少 70% 的填充;七型在六型上再兩面鍍銅蓋住(標準本身 5.7 節寫的是在五型上鍍銅,見來源 7),通常用在導通孔在墊或高密度 BGA,要特殊的樹脂與設備,沒有這些設備品質會打折扣;一型到四型用在沉錫表面處理時,作者不建議,因為藥水殘留可能腐蝕孔裡的銅(備註表 3)。
階段④:BGA 與 QFN 怎麼選
怎麼做:
- BGA 焊墊上的孔:用填孔再鍍銅蓋平(七型);填平後焊墊大致是平的,空洞比較不會黏在焊墊上(來源 1、來源 3)。
- 填不滿也有幫助:一份比較三種電鍍方式的試驗,填充率約 96% 的配方讓平均空洞大小少了 74%,填充率約 59% 的配方也少了 64%;這只是一個例子(來源 3)。
- QFN 散熱孔的大小與間距:散熱孔間距約 1.0 mm、鑽孔 0.3 mm 起,孔越小,錫流失的風險越低(來源 5)。
- QFN 散熱孔塞或蓋:塞孔可以消除錫流失;塞孔太貴時,可以用防焊蓋孔;從背面塞或蓋,困在孔裡的空氣可能讓空洞變多,從正面蓋比較不會有隨機的空洞,正面蓋孔的防焊要比孔大 0.1 mm(來源 5)。
- 表面處理也有關:OSP 板子兩面都不蓋孔,焊接表現也穩定(來源 5)。
- 蓋孔會墊高零件:防焊蓋帽約 2 mil 高,會把 QFN 撐高、影響訊號腳的焊點高度;鋼板要避開蓋帽,不要把錫膏印在上面(來源 6)。
- 孔不要靠近訊號腳的焊墊邊:除非完全蓋住或用防焊塞住(來源 6)。
公開資料怎麼說: 前面那篇電路板供應商的專欄寫:七型通常用在導通孔在墊或高密度 BGA。前面那篇電子材料公司的論文寫:兩種填孔配方的填充率約 96% 與 59%,平均空洞大小分別少了 74% 與 64%;沒填孔時,錫膏與回焊曲線對空洞的影響大得多,填孔之後錫膏參數影響很小,製程窗口變寬;填得較滿時焊墊大致是平的,空洞黏在焊墊上的比例降到 20%。前面那份半導體公司的應用筆記寫:散熱需求高時,散熱孔建議間距約 1.0 mm;依一般板廠的能力,鑽孔建議從 0.3 mm 開始,孔越小錫流失風險越低;塞孔可以消除錫流失,不划算時可以蓋孔;從背面塞或蓋,困住的空氣可能增加空洞;從正面蓋孔較不會產生隨機空洞,防焊直徑要比孔大 0.1 mm;OSP 的板子不蓋孔也有穩定的表現。一家電子製造服務廠的 QFN 白皮書(2011 年 6 月)寫:從組裝的角度,孔鍍平或鍍滿效果為佳,可以避免錫流進孔裡;不建議用沒填的鍍通孔,要用的話孔要小;防焊蓋帽約 2 mil 高,會撐高 QFN;孔不要放在訊號腳焊墊的邊緣,除非完全蓋住或塞住;用蓋孔時,鋼板不要把錫膏印在蓋帽上(備註表 4)。
嘉鴻能幫的:
- 嘉鴻工程部可以協助看 PCB 設計好不好生產,包括拼板。
階段⑤:和板廠談、驗證空洞
怎麼做:
- 先和板廠談:導通孔的處理方式很多,先跟板廠說清楚為什麼要處理、哪些因素要避免,才能選到和其他設計條件配合的做法(來源 1)。
- 把處理方式寫進製作圖:IPC-4761 是設計指南,IPC 商店頁列的是 2006 年 7 月版(來源 7);成品板的允收要求看 IPC-6012,IPC 網站列的是 F 版(2023 年 9 月,取代 2020 年 3 月的 E 版),目錄裡有「填孔的蓋帽鍍銅要求」與「銅填微導通孔的凹陷與凸起」兩張表(來源 8)。詢價或下單時,寫明焊墊上的孔要 IPC-4761 哪一型、依哪一版 IPC-6012 允收(本文的整理);蓋帽厚度與凹陷的數值,本文沒有讀到條文,以標準全文與客戶指定的版本為準。
- 成本:完全鍍滿的小孔比較貴;塞孔不划算時,可以改用蓋孔(來源 5、來源 6)。
- 錫膏與回焊曲線:孔沒填時,錫膏與回焊曲線的影響大(來源 3);浸潤時間太長、大部分助焊劑在錫熔化前就被活化,會產生大空洞(來源 5)。
- 看空洞:用 X 光與切片看空洞的大小、次數與位置;那份試驗裡,X 光看到的改善比切片少,小空洞的判定訂在約 2% 以上時,兩者比較接近:以 2.2% 為最小空洞時,X 光量到有空洞的焊點比例,沒填孔、兩種填孔分別是 76%、35%、29%,切片是 76%、39%、23%(來源 3)。
- 看位置:一份試驗的作者推測,空洞的位置可能比大小更重要(例如落在裂縫的路徑上),但沒有證實;零件、焊球大小、孔徑與板厚都會改變結果(來源 4)。
- 第一批先驗證:新設計或換板廠時,先用第一批板子看空洞與焊點,再決定量產的做法(本文的整理)。
公開資料怎麼說: 前面那篇電路板供應商的專欄寫:建議所有電路板設計都先和板廠討論,設計越複雜越要;講清楚為什麼要處理、哪些因素要或不要,才能選到理想的做法。前面那篇電子材料公司的論文用切片與 X 光量空洞的大小、次數與位置,寫到:切片看到沒填孔的焊點 76% 有空洞,兩種填孔分別是 39% 與 23%;X 光也看到改善,但沒有那麼多,小空洞的判定訂在約 2% 以上時,兩者比較接近。前面那份應用筆記寫:浸潤時間太長、大部分助焊劑在錫熔化前就被活化,會產生大空洞。前面那篇聯盟的論文寫:微導通孔在墊造成的空洞影響,與零件類型、焊球大小、微導通孔的鑽孔大小、基材厚度有關;作者推測空洞的位置可能比大小更重要,但沒有證實(備註表 5)。
嘉鴻能幫的:
- BGA 焊點的檢查方式怎麼選,可以看嘉鴻已上線的〈BGA 焊點怎麼檢查:X-ray、紅墨水、切片怎麼選,5 階段由淺入深〉。
- 切片的斷面,可用 4K 3D 數位顯微鏡 觀察與拍照(商品頁寫內建測量系統、可多角度旋轉顯示,用在焊點檢查與缺陷辨識)。
常見問題
Q1:BGA 一定要把導通孔打在焊墊上嗎?和狗骨頭走線怎麼選?
不一定;腳距還放得下狗骨頭走線時,孔可以放在焊墊外,焊墊上就沒有孔要處理。腳距密到狗骨頭的空間不夠,才需要把微導通孔打在焊墊上、從內層走線(來源 3)。完全鍍滿的小孔比較貴(來源 5、來源 6),可以先和板廠確認,是否只在放不下的區域用導通孔在墊(見本頁第①階段)。
Q2:Via-in-Pad、盤中孔、VIPPO、POFV 是同一件事嗎?
不完全一樣:Via-in-Pad(導通孔在墊,也有人叫盤中孔)講的是孔打在焊墊上;VIPPO、POFV 講的是處理方式,指孔填好後再鍍銅蓋平,大致對應 IPC-4761 的七型(七型的定義見來源 1;VIPPO、POFV 這兩個詞,本文沒有在來源裡找到定義,這個對應是本文的整理)。所以只寫「盤中孔」,不代表板廠會幫您填平;詢價或下單時,要另外寫明焊墊上的孔要哪一型處理。
Q3:板子已經做好、焊墊上的孔沒填,組裝時還能怎麼降低空洞?
板子做好之後,能調的是錫膏印刷與回焊曲線。有一篇論文寫,印刷時錫膏會把焊墊上的孔蓋住,除非特意偏移印刷,可以和組裝廠討論鋼板開口;同一篇也寫,孔沒填時,錫膏與回焊曲線對空洞的影響大(來源 3)。回焊的浸潤時間不要太長,否則大部分助焊劑在錫熔化前就被活化,會產生大空洞(來源 5)。調整後用 X 光看空洞,下一版再和板廠談填孔。
Q4:導通孔在墊的空洞率多少才算合格?
本頁讀到的資料沒有給導通孔在墊專用的合格線,允收標準以客戶指定的標準與版本為準。一份業界聯盟的試驗寫,空洞的百分比和失效前的循環次數沒有相關;作者推測空洞的位置可能比大小更重要,但沒有證實(來源 4)。同一份試驗用 IPC-7095A 對 BGA 焊球空洞的 Class 2 判退條件來看 X 光(空洞大於焊球直徑的 45%、或焊球面積的 20% 就判退):40 片板有 21 片不符,其中 15 片的不符出現在有微導通孔在墊的位置、6 片在沒有的位置,作者說後者是 BGA 進料時焊球本身的空洞(來源 4)。這是舊版的條件;IPC 網站列的 IPC-7095 現在是 E 版(2024 年)(來源 9),本文沒有讀到 E 版的條文數值。所以除了空洞率,也建議記下空洞落在焊點的哪個位置,和首批板子的結果一起看(見本頁第⑤階段)。
備註:來源與例外
以下給需要核對的人看,不看也不影響上面的做法。您的產品規範、板廠與零件廠的規格,和本文不同時,以它們為準。
各階段的出處
| 來源 | 用在哪裡與出處 |
|---|---|
| 來源 1 | 階段②、③、④、⑤:塞孔的好處、IPC-4761 七型、和板廠談;一家電路板供應商工程師的電子製造業雜誌專欄(廠商資料,2020 年 6 月) |
| 來源 2 | 階段②:凹陷困住空氣、沒填的孔空洞多到 5 倍、填好的孔和沒有孔沒有找到顯著差異;同一集團旗下另一家公司為首的合作論文(廠商資料,放在 IPC 網站,沒標年份,引用到 2006 年) |
| 來源 3 | 階段①、②、④、⑤:為什麼打在焊墊上、氣袋、藥水殘留、填孔減少空洞、X 光與切片;一家電子材料公司的技術論文(廠商資料,放在 IPC 網站,沒標年份,參考文獻到 2001 年) |
| 來源 4 | 階段②、⑤:沒填的微導通孔在墊對無鉛焊點壽命的影響、空洞位置;一個高密度封裝使用者聯盟的技術論文(放在 IPC 網站)(業界聯盟,2011 年) |
| 來源 5 | 階段①、②、④、⑤:QFN 散熱孔的間距與孔徑、塞孔或蓋孔、OSP、回焊曲線;一家半導體公司的 QFN 與 SON 焊接應用筆記(廠商資料,2002 年 6 月發行,2023 年 12 月修訂) |
| 來源 6 | 階段②、④、⑤:鍍平或鍍滿、不用沒填的鍍通孔、蓋帽高度、孔的位置、鋼板;一家電子製造服務廠的 QFN 白皮書(廠商資料,2011 年 6 月) |
| 來源 7 | 階段③、⑤:七型的定義、版本;IPC-4761《Design Guide for Protection of Printed Board Via Structures》(IPC 標準,2006 年 7 月;連結為 IPC 商店頁) |
| 來源 8 | 階段⑤:IPC-6012 現行版次、蓋帽鍍銅與凹陷凸起兩張表的名稱;IPC-6012F 目錄頁(IPC 標準,2023 年 9 月;另見 IPC 新聞稿,2023 年 10 月 18 日) |
| 來源 9 | 常見問題 Q4、例外與限制:IPC-7095 現行版次與取代的舊版;IPC-7095E 目錄頁(IPC 標準,2024 年 8 月;IPC 商店頁標 2024 年 10 月 17 日發行) |
| 嘉鴻資料 | 「嘉鴻能幫的」;嘉鴻工程部的協助範圍、BGA 焊點怎麼檢查一文 |
表 1|為什麼把孔打在焊墊上
| 項目 | 公開資料怎麼說 |
|---|---|
| 走線 | 密腳距陣列封裝用狗骨頭走線空間不夠;把盲微導通孔放在焊墊上、從內層連接(來源 3) |
| 代價 | 幫了設計,但給板子製作與組裝帶來問題(來源 3) |
| 散熱孔 | 不是每個應用都要,看零件的功率;散熱墊一定要焊上(來源 5) |
來源:見各列。
表 2|風險
| 項目 | 公開資料怎麼說 |
|---|---|
| 開口變小 | 100 µm 的微導通孔電鍍後開口不到 50 µm,容易潤濕不良、藥水殘留(來源 3) |
| 氣袋 | 錫膏蓋住孔(除非特意偏移印刷)困住氣體,回焊時膨脹進焊點(來源 3) |
| 凹陷 | 該文認為凹陷在印刷時困住空氣,回焊時出不去(來源 2) |
| 空洞量 | 沒填的孔空洞多又大,有時到 5 倍;填好的孔和沒有孔沒有找到顯著差異(來源 2) |
| 壽命 | 無鉛焊點:大型陶瓷 BGA 影響可忽略;小焊球 BGA 與 QFN 明顯變差(來源 4) |
| 塞孔的好處 | 避免殘留與腐蝕、ICT 漏氣、錫珠、錫膏流失(來源 1) |
來源:見各列;來源 2 的數字只分析了一半的板子,用的是容易產生空洞的回焊曲線,沒填孔那組沒有做統計檢定。
表 3|IPC-4761 的七型
| 項目 | 公開資料怎麼說 |
|---|---|
| 一型 | 蓋孔;膜可能破掉,困住藥水或錫(來源 1) |
| 二型 | 蓋孔再覆蓋;孔上較高,可能影響印刷,作者不建議在 BGA 範圍內(來源 1) |
| 三型 | 部分塞入,不保證封住;空氣可能把塞孔推出(來源 1) |
| 四型 | 三型再覆蓋;問題和前幾型類似(來源 1) |
| 五型 | 填滿孔,消除裡面的污染物(來源 1) |
| 六型 | 填孔再覆蓋;那家供應商接受至少填到 70%(來源 1) |
| 七型 | 填孔後兩面鍍銅蓋平;用在導通孔在墊、高密度 BGA(來源 1) |
| 單面 | 一型到四型的單面版 IPC 不建議(來源 1) |
來源:見各列;這是供應商工程師對標準的整理與自己的建議(70% 是那家公司的標準,不是業界標準),標準全文以 IPC 為準。
表 4|BGA 與 QFN 的做法
| 項目 | 公開資料怎麼說 |
|---|---|
| 填孔效果 | 兩種配方填充率約 96% 與 59%,平均空洞大小少 74% 與 64%(來源 3) |
| 製程窗口 | 沒填孔時錫膏與曲線影響大;填孔後影響小(來源 3) |
| 散熱孔 | 間距約 1.0 mm,鑽孔 0.3 mm 起;孔越小錫流失越少(來源 5) |
| 塞或蓋 | 塞孔消除錫流失;背面塞或蓋可能增加空洞;正面蓋孔防焊比孔大 0.1 mm(來源 5) |
| OSP | 不蓋孔也有穩定的表現(來源 5) |
| 鍍平或鍍滿 | 從組裝的角度效果為佳;不建議沒填的鍍通孔(來源 6) |
| 蓋帽 | 約 2 mil 高,會撐高 QFN;鋼板避開蓋帽(來源 6) |
來源:見各列。
表 5|驗證
| 項目 | 公開資料怎麼說 |
|---|---|
| 和板廠談 | 說清楚為什麼要處理、哪些因素要避免(來源 1) |
| 切片 | 沒填孔 76% 有空洞,兩種填孔 39% 與 23%(來源 3) |
| X 光 | 看到的改善比切片少;小空洞判定約 2% 以上時較接近(來源 3) |
| 回焊 | 浸潤時間太長、大部分助焊劑在錫熔化前就被活化,會有大空洞(來源 5) |
| 位置 | 作者推測位置可能比大小重要,沒有證實;與零件、焊球、孔徑、板厚有關(來源 4) |
來源:見各列。
例外與限制
- 看到什麼、沒看到什麼:本文讀到的是 9 份公開資料(一篇雜誌專欄、三篇放在 IPC 網站的技術論文、一份半導體公司的應用筆記、一份電子製造服務廠的白皮書,以及 IPC-4761(2006 年 7 月版)5.6、5.7 節、IPC-6012F 與 IPC-7095E 的目錄頁與 IPC 網站頁)。IPC-4761 讀的是 2006 年 7 月版的 5.6、5.7 節,七型的說明以標準 5.7 節為準,專欄是供應商工程師的整理(來源 7);IPC-6012F、IPC-7095E 只讀到目錄與 IPC 網站的版本資訊,沒有讀到條文數值(來源 8、來源 9)。
- 來源的立場:來源 2、來源 3 出自同一個集團:來源 2 是那個集團旗下公司為首、加上一家電子製造服務廠與一家測試機構的合作論文,用的填孔藥水是同集團公司的產品;來源 3 把兩種填孔電鍍寫成開發中的技術,沒有寫誰賣;來源 1 是電路板供應商;來源 5 是零件廠;來源 6 是電子製造服務廠。來源 4 是業界聯盟多家公司的共同試驗。
- 數字是特定條件下的:5 倍、74%、64%、76% 這些數字來自各自的試驗板、錫膏與回焊曲線;0.3 mm、1.0 mm、0.1 mm 是那家零件廠對自己 QFN 的建議;換了零件、板廠或錫膏,要以自己的驗證為準。
- 試驗的範圍:來源 3 的試驗只有 1 mm 腳距、至多 300 個接點的 BGA,沒有晶片尺寸封裝;「填不滿也有幫助」依據的是其中一種配方。
- 來源 4 的樣本:16 片板、每種零件 64 顆(一半有孔在墊、一半沒有),每種零件只切一個斷面;QFN 變差得明顯,作者找不到原因,也不能確定空洞是否在裂縫路徑上縮短壽命。
- 年份:來源 2、3 都沒有標年份(來源 3 的參考文獻到 2001 年,來源 2 引用到 2006 年的報告),填孔技術之後有進步;觀念可以參考,做法以現在板廠的能力為準。標準也改過版:來源 3 引用的是 2000 年 8 月的 IPC-7095,來源 4 用的是 IPC-7095A 的空洞條件;IPC 網站列的 IPC-7095 是 E 版,目錄頁標 2024 年 8 月,取代 D 版(2018 年 6 月,及 2019 年 6 月的修訂)與 C 版(2013 年 1 月)(來源 9)。
- 本文的整理:階段①的三種孔、階段⑤的第一批先驗證、階段⑤「把處理方式寫進製作圖」裡下單時要寫明型別與允收版本的建議、圖 3 的怎麼選,是本文的整理;其餘句子都能在來源或嘉鴻的頁面找到對應的敘述。
- 嘉鴻的協助範圍:「嘉鴻能幫的」只寫嘉鴻工程部的協助範圍與站上已發佈的文章。
本文為一般情況的整理,不是標準條文的轉述,也不是對某一家板廠、材料商或零件廠的背書,更不構成對您產品與製程的保證。請以您的產品規範、板廠與零件廠的規格,以及您自己的驗證為準;此為一般情況,仍需視個案而定。