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SMT 落塵要管嗎?5 類該管的異物與產線紀律

SMT 落塵要管嗎?5 類該管的異物與產線紀律

SMT 落塵要管,但要管的是看得見的異物,不是無塵室的等級數字。 我們查到的標準與技術資料裡,沒有一份規定 SMT 產線的落塵量上限;ISO 14644-1 只規定怎麼分級,沒有規定哪種製程要用哪一級。但棉絮、紙屑、頭髮、分板粉塵這幾類異物,有設備商資料與專家意見指出,會堵住鋼網孔、卡在焊墊之間、讓吸嘴吸力變差。做法的順序是:先把來源隔開(拆箱、分板、人員動線),再用目視與黏取樣檢查,微粒計數器只當輔助。下文每項都標明依據。此為一般情況,仍需視個案而定。

用詞對照:落尘=落塵;粉尘=粉塵;车间=產線/廠房(皆為中國寫法)。

人員走動帶來的纖維、頭髮、皮屑、鞋底灰塵 ●○ 來料拆箱 分板/裁板 錫膏印刷 貼片 回焊 檢查 (目視/SPI/AOI) 異物 ● 紙屑、紙纖維 備註 ○ 在受控區外拆 異物 ● 樹脂與玻纖粉塵 備註 ● 附著板緣, 隨板進下游 異物 ● 纖維、棉絮、 紙屑、髮絲 可能缺陷 ● 鋼網孔被堵、 印不滿 可能缺陷 ●○ 纖維卡在 焊墊間 異物 ● 灰塵、錫屑 可能缺陷 ● 吸嘴吸力下降、 拋料 異物 ●◆ 進爐前夾在板面 或焊墊上的異物 可能缺陷 ● 潤濕不良、 焊點凹坑 異物 兩端清潔度不同 可能缺陷 ●○ 墓碑 (次要因素) 異物 ◆ 留在成品板上的 異物(FOD) 備註 ◆ 是檢驗判定項目, 門檻依您採用的 標準版本 ● 廠商資料或專利 ◆ 標準有列為判定項目 ○ 專家問答或業界做法 示意圖,非實測。依據與限制見表 1;此為一般情況,仍需視個案而定。
圖 1 異物在 SMT 流程中,哪一站最怕哪一類

表 1|異物落在哪裡、造成什麼缺陷、依據有多硬

站點可能出現的缺陷異物落在哪、是哪一類可靠程度依據(完整來源見 D 章)
印刷鋼網孔被堵,印不滿、錫量不足鋼網開孔;纖維、棉絮、紙屑、髮絲等廠商資料接觸式清潔設備商的兩篇技術文(同一家)都寫到鋼網孔被污染物堵住會印不完整。提醒:站內另文指出,堵孔最常見的原因是乾固的錫膏
印刷後相鄰焊墊之間夾纖維,有短路疑慮焊墊之間;以擦拭鋼網的布所掉的纖維最具體廠商資料+專家問答同一家設備商的兩篇技術文:擦拭鋼網用的布掉出的纖維,可能卡在焊墊之間造成短路。一則專家問答:機台與桌面上又大又導電的粒子才是風險
貼片吸嘴吸力下降,取料不良、拋料吸嘴內孔與通道;灰塵、錫屑廠商資料貼片機製造商的專利(2013 年申請、2017 年公告):灰塵與錫被吸進吸嘴、附著在內部通道,吸力下降,需定期清洗。一份 2025 年的畢業專題也把髒污吸嘴列為取料錯誤原因(改善是多項措施合併,無法單看吸嘴)
回焊潤濕不良、焊點出現凹坑、可靠度下降進爐前夾在板面或焊墊上的異物廠商資料(單一)+標準有列設備商技術文:受污染的錫膏在回焊時揮發,在焊點留下凹坑,並造成潤濕不良。NASA-STD-8739.3(1997)把「Contamination (e.g., lint, flux, dirt)」列為焊點的不合格項目;這是航太手焊標準
回焊墓碑(小 chip 一端翹起)兩端焊墊或電極的清潔度、氧化程度不同次要因素:廠商資料+專家問答某錫膏供應商把墓碑歸因於兩端潤濕力不均,主要成因是加熱不均、焊墊設計、錫量與對位,「清潔度」只在括號內被點到;一則專家問答中有兩位把表面污染或氧化列入原因

「廠商資料」指設備或材料供應商的技術文、專利或應用筆記,有銷售立場;「專家問答」是論壇回覆,不是調查。以上都不是對您產線的實測。

表 2|尺度對照:分級表量的東西,和會出事的東西不在同一個尺寸

項目尺度說明與依據
ISO 14644-1 分級表涵蓋的粒徑0.1~5 µmISO 14644-1:2015 的範圍說明;更大的粒子(>5 µm)可用 M 描述另行表述
光學微粒計數器的量測範圍約 0.1~10 µmISO 21501-4:2018 的摘要說明
ISO 8(約當舊制 Class 100,000)的 ≥0.5 µm 上限3,520,000 個/m³大學潔淨室頁面的對照表;ISO 7(約當 Class 10,000)為 352,000 個/m³
錫粉直徑Type 3:25~45 µm;Type 4:20~38 µm;Type 5:15~25 µm某錫膏供應商的應用筆記
鋼板最小開孔寬度(該供應商建議)Type 4:長方形 190 µm、方或圓 266 µm;Type 5:125 µm、175 µm同上
人髮直徑約 17~180 µm公開百科(頭髮條目:0.017~0.18 mm)
黏取樣標準的適用粒徑5 µm 以上ASTM E1216-21 的範圍說明
設備商文章對典型異物的尺寸描述衣物纖維約 50~100 µm、包裝材料約 50~200 µm、灰塵(多為皮屑)約 20~50 µm、銑切的環氧粉塵約 20~100 µm;並稱小到 25 µm 的粒子就可能造成印刷缺陷單一設備商文章,數字未附出處,只當量級參考

一、有沒有標準規定 SMT 產線的落塵量?

我們查不到。能確認的有三件事。

第一,「Class 100K」「Class 10K」是舊制編號。 它們出自美國聯邦標準 FED-STD-209E,2001 年 11 月 29 日廢止,由 ISO 14644-1 取代。單位不同(每立方呎對每立方公尺),只能近似對應:Class 100,000 約當 ISO 8(≥0.5 µm 每立方公尺不超過 3,520,000 個),Class 10,000 約當 ISO 7(352,000 個)。對照出自大學潔淨室頁面,沒看到 ISO 原文表,請以您取得的版本為準。

第二,ISO 14644-1 只講怎麼分級。 2015 年版的範圍是 0.1~5 µm 的粒子濃度,更大的粒子用另外的 M 描述;它不規定哪種製程需要哪一級。

第三,業界說法分散。 一則專家問答裡,有人說多數 SMT 區域沒有正式管控粒子數,做了二十年沒聽過粒子造成問題;有人說世界級的廠大概能到 ISO 8;另一位說空氣粒子數主要反映整潔管理,真正的風險是機台與桌面上又大又導電的粒子。也有 EMS 為醫療與通訊這類高可靠度客戶設置 ISO 8 潔淨室。客戶規範若有等級要求,以客戶規範為準。

IPC-A-610 的 10.6.2 與 J-STD-001 的 8.4 有「異物(FOD,Foreign Object Debris)」專節,管的是異物留在成品板上,與空氣粒子數無關。我們只看到目錄,沒看到條文,不轉述門檻,請以您採用的版本為準。NASA-STD-8739.3(1997 年版)要求作業區整潔、不得飲食,但它是航太手焊標準,不是商用 SMT 產線的強制規定。

二、落塵造成的缺陷,哪些有依據

先看表 1 的「可靠程度」欄。最有依據的兩項,是鋼網孔被堵、焊墊之間夾纖維(設備商技術文),以及吸嘴內孔被灰塵與錫屑附著、吸力下降(貼片機製造商專利)。前者要注意:站內〈錫膏印刷不良怎麼排查?〉指出,孔被堵最常見的原因是乾固的錫膏,所以印不滿時,先排除乾固錫膏,再把異物列入嫌疑。後者是灰塵與錫被吸進吸嘴,不是落在零件上方影響密封;排查見〈吸嘴吸取不良、拋料怎麼辦?〉。

回焊段的資料較薄,表 1 已列。墓碑方面,異物可能是推手之一,但不是第一個該查的項目。最後要誠實說:我們沒有查到把「落塵量」和 SMT 缺陷率直接關聯起來的標準或同儕審查研究;表 1 的依據是設備商資料、專利與專家問答,不是統計。

三、該管哪 5 類東西:不是 0.5 µm 的微粒,是看得見的異物

把表 2 的尺度放在一起看:ISO 14644-1 分級表量的是 0.1~5 µm;錫粉直徑約 15~45 µm;某錫膏供應商建議的鋼板最小開孔寬度,Type 5 長方形 125 µm 起跳,Type 4 是 190 µm;髮絲直徑約 17~180 µm。會堵孔、卡在焊墊之間的,是幾十到幾百 µm 的纖維與碎屑,落在分級表範圍之外。這是依表 2 數字做的推論,不是哪份來源直接寫的;但它說明,空氣粒子數漂亮,不代表鋼網上沒有纖維。

依表 1 的依據強弱,整理成 5 類:

  1. 纖維與棉絮:衣物、鋼網擦拭布與擦拭紙邊緣。依據最硬:設備商兩篇技術文,加上站內另文提醒擦拭紙沒封邊會持續掉纖維。
  2. 紙類:紙箱、紙包裝、紙屑。設備商說紙箱搬動會釋出紙屑,紙包裝的板子會因靜電吸附紙纖維。
  3. 人體落屑:頭髮、皮屑。設備商列為主要來源之一,走動會明顯增加釋出量(見第四節)。
  4. 分板粉塵:樹脂與玻纖。銑刀式分板會產生大量粉塵,板緣殘留鬆散粉塵。「它是異物來源」有依據;「玻纖造成短路」查不到,見第六節。
  5. 一般灰塵與錫屑:鞋底與入口帶進來的砂塵、設備內積塵。吸嘴那段有專利為證。

四、產線紀律:5 件事,各自的依據

沒有標準規定這些做法,以下是業界做法與廠商資料,逐項標明依據。

1. 紙箱在產線外拆。(業界做法,有廠商資料)無塵室工程業者與污染管制文章都建議,紙板類外包裝在受控區外移除。我們沒查到「紙箱是落塵最嚴重來源」的統計,所以只說它是明確的來源之一。做法是拆箱區與 SMT 線隔開,拆完再把板子、料盤送進線邊;手套紙盒也會掉紙屑,見〈拋棄式無粉手套包裝改良案〉。

2. 分板與裁板單獨一區並抽塵。(廠商資料)銑刀式分板會產生大量粉塵,需要抽吸,吸塵系統還要 ESD-safe。離印刷站多遠才夠,沒有標準或實測數字可引,請依動線實況判斷,再用第五節的黏取樣驗證。

3. 人員動線要短,穿戴要到位。(廠商研究)一家無塵服業者 2010 年的實驗:受測者穿一般便服,原地踏步時每分鐘釋出 ≥0.5 µm 粒子約 3,742 個,站著不動約 182 個,相差約 20 倍;穿無塵服、帽與鞋套後明顯下降。限制:業者自己的實驗,受測者十餘人,只測站立與原地踏步,不代表產線。能用的結論是:不必要的進出與走動,本身就是落塵來源。穿戴選型見〈無塵室穿戴選型指南〉與〈網帽、鞋套與黏塵地墊怎麼選〉。

4. 入口先擋一道。(業界做法)防塵設備業者把「入口放黏塵墊並頻繁更換」列為基本做法;配置方式見〈無塵區污染源:黏塵地墊入口標配〉。

5. 作業區與設備保持乾淨,清潔用吸的。(標準有類似要求,加廠商資料)NASA-STD-8739.3 要求作業區整潔、工作站不放非必要的工具與材料。防塵設備業者建議以吸塵取代掃地與壓縮空氣吹,避免二次揚塵;接觸式清潔設備商說,刷子、吸塵器與吹氣只能清掉一部分,仍要取樣確認。貼片機製造商的專利把吸嘴定期清洗當成基本維護。鋼網擦拭材料若掉纖維,就成了新的來源,選材見〈錫膏印刷不良怎麼排查?〉。

五、怎麼量:目視、黏取樣、微粒計數,各自量到什麼

  • 先用眼睛看。 設備商建議用最高約 60 倍的顯微鏡檢視採到的樣品;取樣點可選作業員的背部與腿部、入口與走道地面、輸送帶下方,以及進線的板子。
  • 黏取樣。 ASTM E1216-21 以壓敏膠帶黏取表面粒子,再在顯微鏡下計數與量測,適用 5 µm 以上;允收門檻標準不給,由使用者自訂。所以先固定位置與頻率取樣,看趨勢,不必先找「合格值」。
  • 微粒計數器。 依 ISO 21501-4:2018 校正,量測範圍約 0.1~10 µm,用於 ISO 14644-1 的分級。前述專家認為它主要反映整潔管理,設備商也指出空氣採樣會漏掉較重的粒子,所以適合追蹤趨勢,不適合當唯一指標。要表面潔淨度分級的話,另有 ISO 14644-9(2012 年版粒徑範圍 0.05~500 µm,現已由 2022 年版取代)。
  • 異物型不良單獨計。 在 SPI、AOI 與目視的缺陷碼裡,把髮絲、纖維、紙屑獨立成一類,否則改善會被其他不良稀釋。這是業界做法;驗證框架可參考〈網帽、鞋套與黏塵地墊怎麼選〉。

六、常被提到、但我們查不到依據的說法

  • 「紙箱是最嚴重的落塵來源」:資料只說它是來源之一,沒有統計能排名。
  • 「從 Class 100K 或 10K 起步,管控 10 µm 以上」:沒有標準依據。Class 100K/10K 是已廢止的舊制編號;ISO 14644-1 分級表只到 5 µm,10 µm 以上要用 M 描述另訂。
  • 「玻纖掉在焊墊之間會短路,或日後形成電遷移通道」:我們查到的 CAF(導電陽極絲)資料,講的是板子內部、沿玻纖與樹脂界面長出的銅絲;沒查到外來玻纖粉塵落在板面造成短路或電遷移的資料。分板粉塵仍該管,理由是它是異物,不是這個機制。
  • 「異物會墊高鋼網」:站內另文談的是鋼網底面殘膠破壞貼合;外來異物夾在鋼網與板子之間的影響,沒查到直接資料,只是推論。
  • 「異物落在零件上方會影響吸嘴密封」:我們查到的專利機制是灰塵被吸進吸嘴內部。

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標準出處

本文引用之規範,請以各發布機構之最新版本為準。

本文為一般技術資訊的整理,不是標準條文的轉述,也不構成對您製程的背書。落塵與異物的管控方式,請以您的規範、客戶要求、設備與材料供應商的技術文件,以及您自己的驗證結果為準;此為一般情況,仍需視個案而定。

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