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BGA 紅墨水與切片報告怎麼看:先看圖例,再看斷在哪一層、染了多少,6 階段讀懂

BGA 紅墨水與切片報告怎麼看:先看圖例,再看斷在哪一層、染了多少,6 階段讀懂

拿到 BGA 紅墨水(染色拉開)與切片報告,先看圖例:斷裂位置的編號與染色面積的等級,每份報告寫得不一樣;再看三件事:焊點斷在哪一層、染了多少、兩面對不對得起來。染到色的面,是拉開之前就已經裂開的;沒有染到色的面,是拉開時才斷的。切片只看一個剖面,要和紅墨水對起來讀,才知道該往 SMT 製程、板子、零件或受力的哪一邊查。

  • 圖例各家不同:IPC-TM-650 2.4.53 的範例,有自己一套斷裂位置的編號與染色等級的代號;產線上常見的情形是,各實驗室的報告各用一套,同一個字母在兩份報告裡,可能代表不同的面積範圍(階段①)。
  • 染到色,才是原本就裂:標準寫明,原本就有的裂縫會被染到,兩面通常成鏡像;沒有染到色的斷面,是拉開那一下才斷的(階段②至④)。
  • 紅墨水只供觀察:標準自己寫明,這個方法只用來觀察有沒有染色的跡象,不是強度試驗;染多少算有問題,要和客戶約好。切片只看一個剖面,一顆焊點只代表一顆(階段③、⑤)。

檢查怎麼做、先後順序怎麼排,請看〈BGA 焊點怎麼檢查〉;本文從「報告已經拿到手」開始講,範圍是怎麼讀。染色面積或空洞「多少算過」的判定值、枕頭效應(Head-in-Pillow,焊球與錫膏沒有融成一體)為什麼發生、BGA 的重工與植球,不在本文。下面每個階段寫了怎麼做,以及嘉鴻能幫的;來源與例外放在文末的備註。

焊點剖面:報告上的斷裂位置 零件基板 板材 零件焊墊被拉起 零件端金屬層 零件端 IMC 焊料本體內 球與錫膏之間 (枕頭效應) 板子端 IMC 板子端金屬層 板子焊墊被拉起 (紫色細層是 IMC;示意圖,各層厚度不依比例) 拉開後的兩面,染色怎麼讀 板側 零件側 兩面染成鏡像 拉開之前就裂 沒有染色 拉開時才斷 淡粉紅、有坑 可能是板材開裂 紅墨水 哪一層斷、染多少 切片 裂縫走向、組織、IMC 對起來讀 往製程、板子、零件、受力查 位置圖幫忙決定切哪一顆;兩份不一致時,先問是不是同一顆 ①圖例與做法 ②斷在哪一層 ③染色與位置 ④新斷的地方 ⑤切片 ⑥合起來讀 示意圖:只列重點項目
圖 1 報告上的斷裂位置,與拉開後兩面的染色怎麼讀

先看這張:報告上看到什麼,先看哪個階段

報告上看到通常代表先看
染色,兩面成鏡像這個界面在拉開之前就裂了階段②:斷在哪一層
沒有染色,斷面乾淨拉開之前,界面是連著的;斷面是拉開時才出現的階段④:新斷的地方
淡粉紅,在板材上可能是板材開裂(墊下開裂,Pad Cratering)階段②、⑤
只給一面的照片資料不完整,沒辦法對鏡像階段⑥:補問
全部沒染色只能說這幾顆沒看到,要看拉了幾顆階段③
切片與紅墨水不一致先問是不是同一顆、切在哪個位置階段⑤

階段①:先看報告的底:樣品、做法與圖例

報告前面幾頁,決定後面的照片能不能對回您的板子;先看這幾項,再看結果。

看什麼怎麼看為什麼
樣品幾顆、哪一個位置、有沒有重工、板子的表面處理;拉開之前的外觀照片,焊點周圍的助焊劑有沒有破裂IPC-TM-650 2.4.53 要求報告附拉開前的外觀觀察;助焊劑被擾動,可能表示焊點或板材受過力
依據的版本報告寫的是哪一版標準;舊稱「撬開」(Dye and Pry),2017 年 8 月版的名稱是「拉開」(Dye and Pull)標準現在的步驟,是用拉力治具均勻地拉;版本不同,拉開的方式就可能不同
做法的參數洗助焊劑、真空度、泡染料的時間、烘乾溫度標準寫:洗助焊劑至少 1 小時,真空不超過 67.7 kPa(約 20 吋汞柱),烘箱不超過 100°C;助焊劑沒洗乾淨,染料滲不進去,會得到「看起來沒問題」的假象
範圍報告寫明結果只對收到的樣品負責;看拉開了幾顆一份報告的幾顆,不是整批
圖例位置編號、染色等級各代表什麼見下面的說明

表中的「做法的參數」,同一份方法(2017 年 8 月版)還寫了幾個時間與限制,可以拿來對照報告寫的做法[參A]:清洗助焊劑的溶劑不能用異丙醇,因為它溶不掉助焊劑;抽到 67.7 kPa 真空 3~4 分鐘,再讓樣品在維持 67.7 kPa 真空下泡在染料裡至少 30 分鐘,真空任何時候都不超過這個值,否則染料會開始沸騰揮發;烘乾之後,可能的話再讓樣品在室溫下放一夜,因為沒乾的染料在拉開時會被抹開,造成錯誤的結論[參A]。

產線上常見的報告順序是:每顆 BGA 依序放整體照、拉開後的板側與零件側、四個角的特寫,接著才是結論。

斷裂位置的編號與染色等級的字母,各實驗室的報告各有一套,和 IPC 範例的編法不一定相同;同一個字母,在兩份報告裡可能代表不同的面積範圍。讀報告時先看圖例,不要憑記憶讀字母;報告沒附圖例,請實驗室補。

一個分析造成損傷的例子:試驗件被懷疑有晶片裂紋,週報寫,這個疑慮已排除,裂紋是失效分析的方法造成的。週報對裂紋這件事只有這一行,沒有寫怎麼確認。這個例子可以提醒:看到的損傷,要先排除是不是分析本身造成的;收到這類結論時,可以請實驗室寫明是用什麼方法確認的。

嘉鴻能幫的:

  • 先問實驗室樣品會不會退回;拿回來之後,用顯微鏡對著報告的照片,看染色的形狀在同一個位置能不能對上。高畫質 7 吋數位顯微鏡:JH-G1200 為 1–1200 倍、JH-G1600 為 1–1600 倍連續變焦,物距 10 mm 至無限遠,鏡頭角度可調,7 吋觸控螢幕,內建拍照與錄影;進階配件組附輔助燈與 32G 記憶卡,可以存檔當記錄。
  • 4K 3D 數位顯微鏡 TD-4KHU:內建測量系統,螢幕直視,可多角度旋轉顯示。
  • 顯微鏡外接螢幕與 KVM 切換器:Full HD 解析度,180° 可旋轉底座;多人一起看、一起拍照記錄用。
  • 嘉鴻的〈數位顯微鏡|誤差及校驗問題問答〉:量測值基本上以提供一個數據值為主,並非拿來做精準量測;人員重複性明顯大於設備重複性。
  • 價格與庫存,請洽詢。

階段②:看斷在哪一層:七個位置,加上枕頭效應

IPC-TM-650 2.4.53 的圖 20,標出的斷裂位置,可以歸成七處;一篇 IPC 研討會論文的圖 1 也畫了七種,並說明通常會有好幾種同時存在,各自在不同的受力大小下出現。下表依圖 20 整理,右欄是一般的判讀方向,不是標準條文,也不是結論。IMC(Intermetallic Compound,金屬間化合物)是焊料與焊墊金屬反應,在界面長出的薄層。

位置在哪裡斷先往哪裡查(一般判讀)
零件焊墊被拉起零件焊墊連同金屬,從零件基板上被拉起,或把基板拉出一個坑零件基板本身的結構,請零件廠一起看
零件端金屬層零件焊墊的金屬層與 IMC 之間零件焊墊的表面處理、IMC 的成長(熱歷程);有公開研究指出,化鎳浸金(ENIG)的焊墊,常斷在 IMC 與鎳層之間
零件端 IMC零件端的 IMC 與焊料之間同上,再加受力(落摔、彎折)
焊料本體內斷在焊球自己中間沒染色,是拉開時才斷,表示兩端界面比焊料還強;有染色,才是拉開之前就裂
球與錫膏之間焊球與錫膏熔成的焊料之間(枕頭效應;IPC-TM-650 2.4.53 圖 18 有染色照片)翹曲、焊球氧化、錫膏;成因不在本文
板子端 IMC板子端的 IMC 與焊料之間板子焊墊的表面處理、潤濕、IMC 的成長、受力
板子端金屬層板子焊墊的金屬層與 IMC 之間化鎳浸金的焊墊,先查鎳層有沒有腐蝕(黑墊);見階段⑤
板子焊墊被拉起焊墊連同下面的板材(樹脂)被拉起,也叫墊下開裂板材、焊墊設計、過爐次數、板子受力的來源
  • 墊下開裂的樣子:SMTA 期刊的一篇論文,把裂縫分成兩段:先從焊墊附近的板材表面出發,約斜 45 度往下走到第一層玻璃纖維;再沿著纖維束的上緣走,直到在焊墊內側找到短路徑回到表面。拉開後,常見一個錐形的坑。這篇論文的做法,是把染色與顯微鏡看得出來的板材損傷,一律當作失效。IPC-TM-650 2.4.53 的圖 16 是板材開裂的範例,注明染色很淡,是粉紅色。
  • 電性與非破壞檢查,看不出來:一篇研討會論文寫明,墊下開裂的裂縫,電性測試與非破壞檢查都偵測不到,要靠染色拉開或切片。
  • 焊墊的設計,會改變斷的位置:同一篇論文,整排用 NSMD 焊墊(防焊開窗比銅墊大,焊接面積由銅墊定義)時,主要是墊下開裂;把每個角外側的 6 個焊墊換成 SMD 焊墊(防焊壓在銅墊邊上,焊接面積由開窗定義),那 6 個改成 IMC 斷裂,其餘仍主要是墊下開裂。
  • 多次過爐,兩種斷法都更容易:同一篇論文指出,經過多次回焊的板子,更容易墊下開裂;作者推測,多次回焊使 IMC 變厚,降低脆性斷裂的強度。

嘉鴻能幫的:

  • 拉開後的板子與零件,用階段①的數位顯微鏡看。
  • 價格與庫存,請洽詢。

階段③:看染了多少、染在哪裡

看什麼怎麼看為什麼
染色面積每顆焊點,兩面各染了多少;照報告的圖例讀等級IPC-TM-650 2.4.53:需要時才記錄百分比,接受的標準由實驗室與客戶約定;本文不寫「多少算過」
兩面對不對板側與零件側,染的形狀與位置要成鏡像標準寫「通常」兩面成共同的鏡像;只給一面的照片,沒辦法對,請補另一面
顏色深淺淡粉紅也算染到IPC 的板材開裂範例,就是淡粉紅;別把「顏色很淡」當成沒染
整片的位置把每顆焊點的位置與等級畫成圖(IPC 範例圖 21、22 都是);看集中在邊緣、角落,還是散在各處一篇彎折試驗的論文:BGA 擺正時,損傷在左右兩邊,轉 45 度,損傷就在對角的兩個角;位置跟著板子受力的方向走
位置圖的用法同一批其他板子,要切片時,從位置圖挑可能有問題的地方一篇業界文章提到,紅墨水能看出裂縫在哪個界面、是集中在某一象限還是隨機,常放在切片之前,用來決定切哪裡
拉了幾顆全部沒染色時,看拉開的顆數見下表

一份報告,全部沒染色,只能說「這幾顆沒看到」,不能說整批沒有。下表是一般的二項分布計算(不是標準條文):全部沒看到時,以 95% 的信心,整批不良率可能高到多少。

拉開的顆數全部沒染色時,不良率可能高到
6 顆約 39%
30 顆約 9.5%
100 顆約 3.0%

反過來的例子:報告只拉開幾顆(例如 6 顆),結論寫「沒有發現不良」;它說的是那幾顆,不是整批。

上表的算法,統計上有個好記的近似,叫「三的法則」:n 個樣本都沒有出現某件事時,整體發生率的 95% 信賴區間上限約是 3/n[參B][參C];n 大於 30 時,這個近似就不錯[參C]。用上表同一個公式反推(本文的計算例):要在全部沒染色時,把 95% 信心的上限壓到 5% 以下,至少要拉開 59 顆;壓到 1% 以下,至少要 299 顆。顆數少時 3/n 會偏高:6 顆時 3/n 是 50%,上表的精確值約 39%。

嘉鴻能幫的:

  • 用階段①的數位顯微鏡,把退回的樣品拍照,對照報告的染色位置;顯微鏡外接螢幕可以多人一起看。
  • 價格與庫存,請洽詢。

階段④:看沒染色的斷面:拉開時新斷的地方

沒有染色的斷面,不是「原本就裂」,但它告訴您:這一顆焊點,拉開時薄弱的地方在哪裡。

看什麼怎麼看為什麼
新斷在哪一層沒染色的斷面,落在階段②的哪一個位置IPC-TM-650 2.4.53 圖 22 的說明:用位置圖,可以快速看出每顆焊點薄弱的界面
乾淨的分開焊球整顆乾淨地離開焊墊,沒有染色一篇業界文章描述的現象:乾淨分離、沒有染色;一般的看法是拉開之前沒有裂縫
約 80% 染色一大片染色同一篇文章的例子:約 80% 的面積染到,作者的結論是焊點在染色之前就已經裂了
沒染色的焊墊被拉起板材開裂的坑,沒有染色這次拉開才把焊墊與板材拉開,不能算「原本就裂」;它說明這個位置在拉力下薄弱;要比較不同板材抗開裂的能力,可用墊拉(Pad Pull)試驗
拉的方式標準要求用拉力治具,均勻地拉拉開的方式不同,結果就可能不同;先看報告寫的是哪一種

表中提到的墊拉試驗,IPC 有一份專門的方法:IPC-9708《Test Methods for Characterization of Printed Board Assembly Pad Cratering》,IPC 線上商店寫它在 2010 年 12 月發行;它評估的是板材與設計在表面黏著焊墊底下發生介電層內聚破壞的傾向,試驗方法包括拉針(pin-pull)、拉球(ball-pull)與推球(ball shear),可用來把不同板材與設計參數排序比較[參D]。

產線上常見的做法是:比較助焊劑時,回焊之後把 IC 直接從銅板上拉起來,看斷在哪一層;焊料全部留在銅板上的,評為很好。這是用「新斷的地方」,來比較焊接結合好不好。

嘉鴻能幫的:

  • 拉開之後的斷面,用階段①的數位顯微鏡看。
  • 價格與庫存,請洽詢。

階段⑤:看切片照片:裂縫走哪裡、組織長什麼樣、跟紅墨水對得起來嗎

切片是把焊點切開、磨平,在顯微鏡下看剖面;它看得清楚,卻只看一個平面。

看什麼看到什麼先往哪裡查(一般判讀)
裂縫的位置與走向沿著 IMC、穿過焊料,或從焊墊邊緣斜著進入板材對回階段②的位置表
裂得完整還是局部只斷一部分,電性還通;完整斷開,才會量到不良一篇論文:局部的 IMC 斷裂,不會立刻造成電性失效;電性失效之後再切,同樣的破壞更嚴重
焊料與焊墊之間有沒有縫;焊球有沒有保持圓形;焊墊上有沒有焊料殘留一個查問題的例子:BGA 經預處理後失效,切片看到板子焊墊上有殘錫(冷焊),零件焊墊上沒有焊錫,焊球還保持圓形
空洞在球裡面,還是在球與焊墊的界面,要分開記一篇 IPC 研討會論文:介面上的空洞,比球內的空洞,更容易讓焊點變弱
焊球變形、偏移焊球被壓扁、位置偏掉記下變形與偏移的程度,原因要另外查
化鎳浸金焊墊從上面看,鎳層表面像乾裂的泥巴(龜裂狀);剖面看到往鎳層裡伸的腐蝕尖刺一篇論文以這兩個特徵,加上成分分析,判斷是黑墊(Black Pad);要用 SEM/EDS
IMC 與組織IMC 的厚度、斷在 IMC 的哪一層、焊料的晶粒要用金相或電子顯微鏡;一篇業界文章:切片加電子顯微鏡與成分分析,可以看潤濕、IMC 的量、成分與蝕刻後的晶粒
  • 切片要選對那一顆:IPC 研討會論文說,切片之前,必須先知道是哪一個腳位有問題;一篇業界文章提到,紅墨水常放在切片之前,用來決定切哪裡(見階段③的位置圖)。
  • 兩份報告說的不一樣:一篇論文,染色拉開與切片,看到的失效模式相同;兩份不一致時,先問:切的是同一顆嗎?切在哪個位置、哪個方向?拉開的是不是同一批板子?
  • 看不到的,寫「未做」:沒做電子顯微鏡與成分分析,就是「未做」,不是「沒有」。

嘉鴻能幫的:

  • 切片之後,看剖面的大致形狀與裂縫位置,可以用階段①的數位顯微鏡。
  • 價格與庫存,請洽詢。

階段⑥:兩份報告合起來讀,寫成下一步,再補問不足的

先把紅墨水與切片,對成同一張表,再決定往哪裡查。下表是一般的查因起點,不是結論。

兩份對起來看到先往哪裡查對應的文章或下一步
IMC 或金屬層斷有染色(拉開之前就裂)。表面處理(化鎳浸金,或有機保焊膜 OSP)、IMC 的成長(過爐次數、爐溫)、受力(落摔、彎折)爐溫的前後對照,見下方測溫線
球與錫膏之間分開有染色。封裝與板子的翹曲、焊球氧化、錫膏的活性〈白光結構光厚度與形變量測〉、〈錫膏怎麼挑〉
板材開裂(淡粉紅)坑內有沒有露出纖維;板材、焊墊設計、過爐次數;板子受力的來源(例如測試、分板、鎖螺絲、搬運)找出受力的工序,要先量板子的應變
零件焊墊被拉起零件基板本身,請零件廠一起看附上報告與照片,請零件廠回覆
零件焊墊沒焊錫切片看到焊墊上有殘錫(冷焊);焊球氧化、焊球與錫膏的材質不同、焊球偏小而錫膏碰到的太少(產線上常見的三個可能)、助焊劑〈錫膏印刷不良怎麼排查〉、〈錫膏怎麼挑〉
沒染色,只有新斷沒有證據顯示拉開之前就裂;原因往焊點以外去找〈BGA 焊點怎麼檢查〉階段①、②的電性與 X-ray 紀錄

報告的資料不足時,請實驗室補:

缺什麼補問什麼
只有一面的照片板側與零件側都要,並標出方向
沒有位置圖每顆焊點的位置與等級,要看分佈
只有結論依據的標準版本、真空、烘乾與拉開的方式;與標準不同的地方
切片沒標位置切的是哪一顆、哪個方向、放大倍率
沒做的沒寫沒做的方法與看不到的缺陷,寫「未做」或「看不到」
樣品只有幾顆拉開與切片各幾顆;是不是同一批

嘉鴻能幫的:

  • 白光結構光厚度與形變量測:量板子與載具的翹曲、錫膏厚度;常溫下量,精度約 ±25 µm。它量的不是元件在回焊溫度下的翹曲,也不能拿來說符合高溫翹曲的量測標準,結果只當參考。
  • 爐溫測試儀:頁面寫 7、9、12 通道、熱電偶自動設定、保固 2 年。測溫線(K 型):鐵氟龍款 0~260°C,量回焊爐;線徑兩種,粗的 0.255 mm 耐彎折,細的 0.127 mm 反應快;頁面附有嘉鴻自行送驗的檢測報告。
  • 錫膏/錫絲系列:頁面寫焊錫膏 SAC305-T4(無鹵素)、無鉛環保,與各規格錫絲。
  • SMT 軟頂針組系列:PCB 底部支撐的耗材,商品頁寫的是貼片時支撐板面、維持水平;整組與上座兩種規格。
  • 板子在印刷機上的支撐,見〈錫膏印刷機支撐塊怎麼選〉。
  • 價格與庫存,請洽詢。

常見問題

Q1:紅墨水報告是英文的,上面常見的字怎麼對到中文?

常見的對照是:Dye and Pry/Dye and Pull 是紅墨水(染色拉開)、Cross-section 或 Microsection 是切片、Pad Cratering 是墊下開裂、Head-in-Pillow 是枕頭效應、IMC 是金屬間化合物、Black Pad 是化鎳浸金的黑墊。有沒有染到色,報告常寫成有染料滲入(dye)或沒有染料(no dye),有的實驗室會把沒染色的斷面描述成銀色、金屬色的區域。斷裂位置的代號與染色等級的字母,各家寫法不同,請照報告自己的圖例讀(見本頁階段①、②)。

Q2:切片沒有切在焊球正中間,照片上的裂縫長度可以直接寫進報告嗎?

不建議直接換算成「裂了幾成」。切面離球心越遠,看到的焊點寬度就比實際直徑窄,裂縫長度與佔比可能偏高,也可能偏低;裂縫如果只在圓周的某一側,切的方向不同,看到的也會不同。請實驗室寫明研磨到哪個位置(有沒有到球心)、切的方向與放大倍率;要看整面的裂縫分布,紅墨水的染色面積比單一剖面完整(見本頁階段⑤)。

Q3:客戶要 8D,可以把紅墨水報告的結論直接寫成根本原因嗎?

不建議。紅墨水告訴您的是「哪一層、在拉開之前就裂了」,這是現象;IPC-TM-650 2.4.53 自己寫明,這個方法只用來觀察染色的跡象,不是強度試驗。8D 的根本原因,還要對上製程或材料的證據,例如爐溫紀錄、板子在各工序的應變、焊墊表面處理的分析,並在 8D 裡附上拉開與切片各幾顆、依據的標準版本與報告圖例,讓客戶知道結論的範圍(見本頁階段⑥)。

Q4:紅墨水會不會把原本沒裂的焊點,弄成看起來有染色?

有可能,常見的有兩種情形。一是染料沒有烘乾,拉開時被抹到新斷的面上,看起來像染到色,所以做法會要求拉開前把染料完全烘乾;二是在泡染料之前,取樣鋸板、拆治具或搬運時讓板子受力,這時才產生的裂縫也會被染到。收到報告時,可以請實驗室寫明烘乾條件、取樣怎麼切、切口離 BGA 多遠(IPC-TM-650 2.4.53 寫,零件四周留約 19~38 mm 的板子,板子小到放得進拉力治具就不切[參A]),並對照收樣時的外觀照片(見本頁階段①)。

備註:來源與例外

以下給需要核對的人看,不看也不影響上面的做法。標準的條文請以官方原文為準;您的客戶給的規範、實驗室的做法與本文不同時,以它們為準。

各做法的出處

做法內容出處
位置、等級、報告項目第 5.13 條:被染到的是原本就有的裂縫,兩面通常成鏡像;第 5.15 條:報告含拉開前的外觀、染色的界面位置,需要時才記染色面積;圖 16(板材開裂,淡粉紅)、圖 18(枕頭效應)、圖 19 與 20(位置編號、斷裂位置)、圖 21 與 22(位置與面積的對照圖);方法只供觀察IPC-TM-650 2.4.53(2017 年 8 月版,讀過全文)
七種斷裂位置零件焊墊被拉起、零件端金屬層、零件端 IMC、焊料本體、板子端 IMC、板子端金屬層、板子焊墊被拉起;通常好幾種同時存在IPC 技術資源論文(Ahmad 等人)圖 1
墊下開裂的兩段裂縫內聚與黏著兩段;錐形;沿玻璃纖維束上緣;以染色與顯微鏡看得到的板材損傷,一律當作失效;引用 IPC-9702 的十種斷裂模式圖(本站沒有讀到 IPC-9702 原文)SMTA 期刊 2010 年第 23 卷第 2 期(McMahon、Gray)
墊下開裂的表現電性測試與非破壞檢查偵測不到;整排 NSMD 焊墊主要是墊下開裂,每個角外側 6 個改 SMD 就變 IMC 斷裂;擺正時損傷在兩邊、轉 45 度在對角;多次回焊更容易;切片與染色拉開的失效模式相同;局部斷裂不會立刻電性失效彎折試驗與聲波偵測的研討會論文(Bansal 等人;SMTnet 技術資料庫;內文引用到 2011 年的文獻)
墊拉試驗對沒有焊球的焊墊直接拉,量讓板材內聚破壞所需的力,用來比較不同板材與焊墊設計;Bansal 等人的論文寫明,這個方法已被採用為 IPC-9708IPC 技術資源論文(Ahmad 等人);採為 IPC-9708 的說法,見上列 Bansal 等人的論文
IMC 斷在哪一層化鎳浸金的焊墊,常斷在 IMC 與鎳層之間;有機保焊膜(OSP)的焊墊,未老化時斷在 Cu6Sn5 與銅之間,老化後斷在 Cu6Sn5 與 Cu3Sn 之間業界雜誌文章(Clark;作者為測試設備廠人員;頁面沒有顯示日期;網址路徑另標 2007/11)
黑墊從上面看的龜裂狀、剖面的腐蝕尖刺、成分分析,當作確認的依據黑墊的辨識與預防論文(SMTnet 技術資料庫;頁面沒有顯示作者與日期;內文提到 2011 年 5 月的研討會)
紅墨水與切片能看什麼紅墨水看裂縫在哪個界面、集中在某一象限或隨機,常放在切片之前;切片加 SEM/EDS,看潤濕、IMC 的量、成分、蝕刻後的晶粒業界雜誌 2009 年文章(Olson)
染色多少算原本就裂約 80% 面積染色,是拉開之前就已經裂;乾淨的分離、沒有染色業界雜誌 2020 年文章(Willis)
切片要選哪一顆切片之前,必須先確定是哪一個腳位有問題IPC 技術資源論文(Choo 等人;2011 年 4 月)
空洞的位置球內、球與零件界面、球與板子界面三種;界面上的空洞更容易讓焊點變弱IPC 技術資源論文(Balsavar)
產線實務報告的頁面順序、圖例各家不同;一個 BGA 預處理後失效的查問題例子與常見的三個可能;回焊後直接拉開比較助焊劑(不寫公司、料號與日期)產線實務整理(原始文件不公開)
拉開幾顆的上限全部沒染色時,95% 信心的單邊上限 = 1 − 0.05 的 1/n 次方(n 為顆數)本文自行計算,不是標準條文

此為一般情況,仍需視個案而定。

例外與限制

  • 年代:公開來源可見的年份在 2006 到 2020 年之間,有幾篇頁面沒有顯示日期;板材、焊料與設備一直在變,其中的比例與傾向,只供參考。
  • 單一論文:七種位置之外,墊下開裂的比例、損傷的方向、焊墊設計的影響,來自特定的測試板與大型覆晶 BGA 的彎折試驗,不是通則。
  • 圖例:各實驗室報告的位置編號與染色等級寫法不同;本文不列對照值,請以您手上報告的圖例為準。
  • 判讀方向:表格右欄的「先往哪裡查」,是一般說法,不是標準條文,也不是結論;每一項都要用您的樣品與製程資料去驗證。
  • 未讀原文的標準:IPC-9702、IPC-9708,本站只讀到論文裡的引述,沒有讀原文。
  • 判定值:本文不寫染色面積與空洞的百分比;數值請看官方原文,並與客戶約定。
  • 範圍:本文不談枕頭效應的成因、BGA 的重工與植球、封裝內部的分層(要用聲波掃描)、墊下開裂的應變限值。
  • 商品資訊:規格以各商品頁為準。白光結構光量測是常溫量測。

標準出處

本文引用之規範,請以各發布機構之現行版本為準。

補充參考資料

[參A]IPC-TM-650 2.4.53《Dye and Pull Test Method (Formerly Known as Dye and Pry)》,2017 年 8 月版(第 5.4、5.6、5.9、5.10.3 條;與上方「標準出處」第 1 筆為同一份)

[參B]《If Almost Nothing Goes Wrong, Is Almost Everything All Right? Interpreting Small Numerators》(JAMA 1995 年第 274 卷第 13 期,第 1013 頁;摘要頁)

[參C]Rule of three (statistics)(維基百科英文版,次級來源)

[參D]《9708: Test Methods for Characterization of Printed Board Assembly Pad Cratering》(IPC 線上商店介紹頁)

本文為一般情況的整理,不是標準條文的轉述,也不是對某一個實驗室或某一台設備的背書,更不構成對您製程的保證。請以您客戶的規範、您採用的標準版本、實驗室的報告,以及您自己的驗證為準;此為一般情況,仍需視個案而定。

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